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两种变频串联谐振试验成套装置故障分析
2021-04-15
        武汉华天电力是专业生产变频串联谐振试验成套装置的厂商,其串联谐振产品稳定性、可靠性高,自动调谐功能强大,支持多种试验模式,系统人机交互界面友好,保护功能完善。
        一、变频串联谐振试验成套装置闪络现象
            在气态或液态介质中,沿固体绝缘表面发生破坏性放电时,称为闪络,闪络现象是指当固体绝缘子周围的气体或液体介质击穿时,击穿电压沿固体绝缘子表面放电的现象,闪络现象其放电电压称为闪络电压,当绝缘体闪烁时,电极之间的电压迅速下降到零或接近零,闪络通道中的火花或电弧会导致绝缘表面局部过热和碳化,从而损坏表面绝缘。
            沿气体和固体介质界面的闪络是常见的现象,例如,沿绝缘子串表面,沿套管表面的破坏性放电称为闪络,“闪络”一词用于特殊条件下的放电现象。
     
        二、变频串联谐振试验成套装置放电现象
            放电现象是一个普遍的概念,它一般是指绝缘材料在电场作用下从绝缘态向导电态跳跃的现象,这种现象可能发生在电极之间以“通”的形式出现,即绝缘材料被短路完全破坏,此时电极间的电压迅速降至极低或接近零,称其为破坏性放电。跳跃现象也可能发生在电极之间的局部区域,使绝缘材料部分短接,其余绝缘材料具有良好的绝缘性能,电极间的电压仍能保持一定的值,称为局部放电。
            破坏性放电和局部放电可用于所有的电介质及其组合,然而,放电发生在不同的电介质中,它们的组合有一个特殊的名称,当在气体或液体介质中,电极之间的破坏性放电称为火花放电,如在气隙、油隙中的破坏性放电,准确地说,应该是火花放电。
    当固体介质中发生破坏性放电时,称为击穿,当击穿发生时,固体电介质中会留下痕迹,使固体电介质失去绝缘性能,如果绝缘纸板突破,就会在纸板上留下一个洞。
     
串联谐振的相关知识
            一、定义
            在电阻、电感及电容所组成的串联电路内,当容抗XC与感抗XL相等时,即XC=XL,电路中的电压U与电流I的相位相同,电路呈现纯电阻性,这种现象叫串联谐振,当电路发生串联谐振时,电路的阻抗Z=√R2+XC-XL2=R,电路中总阻抗最小,电流将达到最大值。
            二、危害性
            发生谐振时,由于感抗和容抗相等,所以电感和电容两端的电压有效值相等,即:UL=UC,又由于其相位相反,因此这两个电压是相互抵消的,在电容或电感的电压有效值为:UL=UC=XLI0=ω0LIO=ω0LU/R,式中ω0L/R称为谐振电路的品质因数,它代表电压比,即UC/U或UL/U。
            品质因数是衡量谐振电路特性的一个重要参数,如电路中电抗越大,电阻越小,则品质因数越高,因此电容或电感上的电压值将比外加电压大的多,一般电感、电容谐振电路的品质因数可达几十甚至几百,所以串联谐振又叫电压谐振,在电力系统中,串联谐振将会产生高出电网额定电压数倍的过电压,对电力设备的安全造成很大危害。
            在R-L-C串联电路中,出现线路端电压和电流同相位的现象叫串联谐振。


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